Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7500FA с приставками для исследования кристаллографических ориентаций (EBSD) и для энергодисперсионного микроанализа (EDS)
В реализации мероприятий по комплексному развитию инфраструктуры ЦКП НОИЦ НМНТ (№ ГК 13.ЦКП.21.0039) проведено дооснащение и модернизация растрового электронного микроскопа (СЭМ JEOL JSM-7500FA) комплектом аналитических приставок энергодисперсионного элементного анализа (EDS) и дифракции электронов обратного рассеяния (EBSD) производства Bruker Nano GmbH.
Одновременно со стандартными электронно-микроскопическими исследованиями морфологической структуры, приставки позволяют проводить комплексный количественный анализ элементного состава, распределения фаз и кристаллической ориентации структурных элементов анализируемых объектов. Совместное использование EDS и EBSD является мощным средством исследования структуры поликристаллических композиционных материалов, и существенно увеличивает возможности и достоверность обеих методик. Проведённое дооснащение СЭМ позволяет повысить объём полезных результатов, уровень и качество исследований по заказам материаловедческих научных групп ТПУ и внешних организаций.
Оператор: Двилис Эдгар Сергеевич
e-mail: dvilis@tpu.ru р.тел. 60-61-64 вн. тел. 2243
Загрузка...
